近日，深圳市大為創(chuàng)芯微電子科技有限公司（以下簡稱“大為創(chuàng)芯”）申報(bào)的“[外觀設(shè)計(jì)]接口轉(zhuǎn)接板（NGFF轉(zhuǎn)SATA）”專利喜獲國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授權(quán)，標(biāo)志著大為創(chuàng)芯在創(chuàng)新研發(fā)領(lǐng)域又邁上一個(gè)新臺(tái)階。

本外觀設(shè)計(jì)提供一種便攜的測(cè)試NGFF轉(zhuǎn)SATA的測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，可以輕松地通過SATA接口連接線與主板連接，有效地避免了在直接安裝時(shí)需要使用螺絲將待測(cè)的NGFF接口的SSD固定在主板上的麻煩，減少了測(cè)試時(shí)間，提高了效率。同時(shí)，它還具有足夠的耐用性和穩(wěn)定性，可以在多次使用中保持其原有的性能和精度。此外，它的便攜性使其易于在各個(gè)實(shí)驗(yàn)室或工作場(chǎng)所之間移動(dòng)，為需要測(cè)試NGFF轉(zhuǎn)SATA適配器的用戶提供了極大的便利。

大為創(chuàng)芯在半導(dǎo)體存儲(chǔ)行業(yè)持續(xù)投入發(fā)展10余年，是一家集研發(fā)、設(shè)計(jì)、銷售于一體的存儲(chǔ)方案提供商，始終堅(jiān)持創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)，注重研發(fā)投入，不斷推出符合市場(chǎng)需求的新產(chǎn)品和技術(shù)。未來，大為創(chuàng)芯將繼續(xù)加強(qiáng)技術(shù)創(chuàng)新，不斷加大研發(fā)投入，提升產(chǎn)品研發(fā)水平和市場(chǎng)競(jìng)爭力。